摘要：目的应用磁共振弥散张量成像（DTI）对早发精神分裂症（EOS）患者的脑部钩束进行研究,探 讨其白质微结构改变与临床症状的关系.方法使用西门子3.0 T 磁共振对2 5例 EOS患者和18例正常人 进行脑部DTI检查,将得到的双侧钩束的部分各向异性（FA）值进行统计学分析.结果 EOS患者左右侧钩 束的FA值分别为0.55 ± 0.14和0.57 ± 0.13.相比对照组, EOS组左右钩束FA值显著增加（左侧P= 0.001, 右侧：P = 0.002）.结论 钩束的FA值异常有助于早发精神分裂症的早期诊断和鉴别.

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