摘要：近日,科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技（以下简称：赛默飞）亮相成都第24届国际集成电路物理与失效分析研讨会（IPFA 2017）,并三款用于半导体失效分析工作流程的全新产品,旨在帮助半导体故障分析实验室提升处理样品和获取数据的效率,为寻求快速、高质量的电性和物理失效分析的半导体制造商提供创新解决方案。

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