摘要：石英晶体微天平仪（quartz crystal microbalance，QCM）就是通过检测物质在石英晶片表面上吸附前后石英晶片共振性能的变化以得到吸附物质的量和一些物理性能。石英晶体微天平仪具有非常高的灵敏度，可以测到纳米级的薄膜厚度变化和纳克级的痕量物质质量的变化，广泛应用于科学研究各个领域中，特别是薄膜质量、厚度的测量，生物、化学传感器以及微量物质在表面的吸附过程研究。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社