首页 期刊 分析测试技术与仪器 Pt/Ti双层电极应力的微观分析研究 【正文】

Pt/Ti双层电极应力的微观分析研究

作者:王敬宇; 左长明; 姬洪 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室; 四川成都610054
x射线衍射   应力  

摘要:常温下用直流溅射法在Si(100)上淀积Pt/Ti电极薄膜.采用X射线衍射、原子力显微镜检测不同退火温度的薄膜,结果表明,退火初期Pt层内首先产生了压应力,从而使Pt表面形成了小丘凸起;退火过程产生的热应力在Pt层残余应力的产生中占主导地位,这种热应力使得Pt层最后的应力状态为张应力状态并且随着Pt层中Pt3Ti金属间化合物数量的增多而增大.

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