摘要：采用水热法制备不同掺杂比例的半导体用ZnCoxFe2O4(x=0,0.25,0.50,0.75)纳米颗粒,并用XRD、EDS、FTIR等测试手段分析Co添加量对ZnFe2O4纳米颗粒的显微组织和红外光谱的影响。结果表明:掺杂Co离子后试样衍射峰发生了宽化现象,材料的晶体质量较好。随Co离子浓度逐渐提高,衍射峰开始往低角度方向发生偏移。经过掺杂Co处理后的试样有更大的颗粒尺寸,同时表面粗糙度较大。随Co掺杂浓度提高,试样的红外光谱测试结果未出现显著变化,Co离子进入晶体后对Zn离子格的点阵位置进行了取代,但依然保持了ZnFe2O4的晶格结构。

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