摘要：分析了片式钽电容器漏电失效模式,研究了片式钽电容器的漏电失效机理,分析表明阳极氧化膜疵点“晶化”是导致电容器产生漏电流的根本原因。以片式钽电容器漏电流产生的理论机理为基础,从工艺、筛选和使用可靠性角度,提出了一系列改进措施,以确保电容器在航天等高可靠领域的应用。

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