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边界扫描测试技术的发展和影响

作者:郑先刚 同济大学中德学院,上海200092
边界扫描   测试   可测试性设计   集成电路  

摘要:扼要介绍边界扫描测试技术的发展、IEEE1149系列测试标准及其影响

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