首页 期刊 电子与封装 钝化层对高压蒸汽试验中器件参数漂移的影响 【正文】

钝化层对高压蒸汽试验中器件参数漂移的影响

作者:韩兆芳; 黄峥嵘 中国电子科技集团公司第五十八研究所; 江苏无锡214035
钝化层   双极器件   hfe   高压蒸汽  

摘要:采用Si02钝化层的塑封双极晶体管在EIA/JESD22-A102-C规定的121℃、100%RH、29.7 psi压力的条件试验96 h后,直流增益HFE测试值会有明显的下降,击穿电压BVCEO会略有上升。分析表明高压水汽可以穿透封装和钝化层,造成芯片内部微缺陷增加,导致器件HFE下降,BVCEO略有上升。通过优化钝化层工艺并对比试验验证,采用SiO2加Si。N4的复合钝化层,可以避免器件参数漂移,改善器件抗潮湿性能。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅