首页 期刊 电子与封装 一种优化FPGA测试配置时间的方法 【正文】

一种优化FPGA测试配置时间的方法

作者:肖艳梅; 陆锋 江南大学物联网工程学院; 江苏无锡214122; 中国电子科技集团公司第五十八研究所; 江苏无锡214072
ate   fpga   4x配置方式   在系统快速配置  

摘要:随着现场可编程门阵列(FPGA)规模发展到千万门级以上,配置向量越来越大,超过95%的FPGA制造测试时间用于加载测试配置比特流。为实现FPGA的快速配置测试,提出了一种FPGA快速测试配置及实现的方法。采用V93000测试系统,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式)。以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证。测试数据表明,与一般配置方法相比,4X配置方式下FPGA单次配置时间减少了74.1%,解决了FPGA测试中数据配置与测试时间的矛盾。

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