首页 期刊 电子与封装 BGA封装循环弯曲试验与温度循环试验的关系 【正文】

BGA封装循环弯曲试验与温度循环试验的关系

作者:张筌钧 宜特科技股份有限公司 台湾新竹30072
球栅阵列封装   循环弯曲试验   温度循环试验  

摘要:随着手持式产品在IC封装可靠性的需求增加,业界正在研究可减少时间与成本的可靠性评估方式。就我们所知,温度循环试验(thermal cycle testing)是验证焊点可靠性的重要测试之一,但其验证往往需要很长时间才知道结果。为了缩短验证时间,文章研究机械疲劳性试验取代温度循环试验的可能性。选择四点循环弯曲试验(cyclic bending test)为研究的重点,在JEDEC22-B11规范中的定义,四点循环弯曲试验条件包含频率跟位移来仿真实际的条件。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅