摘要：本文针对一款应用于大规模集成电路的CMOS高频锁相环,基于边界扫描技术进行了可测性设计.详细讨论了最高输出频率、输出频率范围和锁定时间参数的测试,给出了详细的测试电路和测试方法,仿真结果表明该方法有效可行.

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