摘要：本文利用球差校正透射电子显微镜研究了异质界面结构对PbTiO_3/La_（0.7）Sr_（0.3）MnO_3/NdGaO_3（110）_O以及PbTiO_3/NdGaO_3（110）_O超薄薄膜体系中铁电PbTiO_3层四方性的影响。结果表明,在NdGaO_3（110）_O衬底上生长的具有化学价态不连续异质界面（La_（0.7）Sr_（0.3）MnO_3/PbTiO_3）的PbTiO_3薄膜体系中四方性比直接在NdGaO_3（110）_O衬底上生长超薄PbTiO_3薄膜的四方性明显增强,XPS谱分析显示出界面Mn元素价态发生了变价,探讨了界面处化学价态的变化对薄膜四方性的影响。

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