首页 期刊 电子设计工程 非均匀光照下的二维码识别算法优化研究 【正文】

非均匀光照下的二维码识别算法优化研究

作者:孙百洋; 冷建伟; 栾昊; 赵嘉祺 天津理工大学电气电子工程学院; 天津300384; 天津市复杂系统控制理论及应用重点实验室; 天津300384
图像识别   二维码   大津法   非均匀光照  

摘要:针对某污水膜生产企业使用的包含产品信息的QR码(二维码的一种)在非均匀光照下产生的阴影区域问题,提出一种基于大津法的改进算法。利用图像的局部区域阈值及窗口逐像素滑动计算来消除光照对图像造成的影响,从而提高含有阴影的QR码图像识别率。实验结果验证该方法对含有阴影区域的图像有着更强的适应性,特别是针对分块解析效果不太理想的单侧阴影效果更佳。与经典全局Otsu算法相比,图像识别率提高了5倍左右。

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