摘要：自第一块集成电路(integrated circuit,IC)被研制以来,集成电路不断发展。在摩尔定律的准确预测下,集成度呈数量级跨越。由此带来的软错误率(soft error rates,SER)随之攀升,集成电路面临越来越严峻的挑战。文章中通过研究单粒子效应(single event effects,SEE),提出了新颖的SEUSRL锁存器,该锁存器可以容忍并恢复单节点翻转(single node upset,SNU)。仿真结果表明,该锁存器具有SNU容忍能力,并且与其他SNU容忍单元相比,具有较小的功耗延迟积。

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