首页 期刊 电子器件 低温氢化非晶硅薄膜晶体管研究 【正文】

低温氢化非晶硅薄膜晶体管研究

作者:易茂祥 毛剑波 陈向东 合肥工业大学理学院 合肥230009
薄膜晶体管   低温沉积   底栅   刻蚀阻挡   迁移率  

摘要:低温薄膜晶体管(TFT)的研究是开发大面积柔性衬底集成电路的基础。采用底栅TFT结构并引入刻蚀阻挡层和钝化保护层,通过工艺参数和工艺流程的设计,研制了100℃低温氢化非晶硅TFT。实验对氢化非晶硅活性层、氮化硅介质层薄膜以及TFT特性进行了测试。所研制的低温TFT导通电流与截止电流之比高达10^6,场效应电子迁移率为0.825cm^2/Vs,表明适于柔性衬底工艺的100℃低温TFT得到了有效实现。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅