首页 期刊 电子科技大学学报 利用金属环聚焦的HTS薄膜Rs分布测试法的研究 【正文】

利用金属环聚焦的HTS薄膜Rs分布测试法的研究

作者:陈柳; 曾成; 褚青如; 张洁; 补世荣; 宁俊松 电子科技大学光电信息学院; 成都610054
高温超导   分布测试   金属环   分辨率  

摘要:介绍了一种测试高温超导薄膜微波表面电阻分布的新方法。该方法利用镜像法相关原理,通过引入金属环实现介质谐振器和腔体的能量汇聚,解决了高温超导薄膜微波表面电阻的分布测试通用性与高分辨率不兼容的问题。根据该方法研制了工作在32GHz的频率下,工作模式为TE012+δ的测试装置,其分辨率为直径5mm,面积19.6mm^2的圆面。测试装置对一片两英寸YBCO/LAO/YBCO超导薄膜样品进行了13个点的表面电阻分布测试。

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