首页 期刊 电子科技大学学报 扫描成像系统的激光干扰效果分析 【正文】

扫描成像系统的激光干扰效果分析

作者:赵铭军; 曹卫公; 胡永利; 沈严; 郑永超 西安电子科技大学技术物理学院西安710071; 中原电子技术研究所郑州450005
光电对抗   自适应干扰   干扰效果   干扰机理  

摘要:从破坏机理和损伤阈值方面分析了光电探测器的干扰机理。给出了激光干扰概率模型,提出自适应干扰和时域均匀干扰两种干扰模式,对两种不同干扰方式下扫描成像设备的干扰概率进行了理论计算并得出了试验结果,验证了侦察-干扰工作模式的有效性,证明了激光自适应干扰是光电对抗中的首选干扰方式。

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