首页 期刊 电子测试 论失效分析方法及流程 【正文】

论失效分析方法及流程

作者:王起; 王时光 天水生产力促进中心; 甘肃天水741000; 天水市高新技术创业服务中心; 甘肃天水741000
封装   元器件   失效分析  

摘要:随着微电子业的飞速发展,失效分析广泛应用于宇航、工业、军品和民用产品中。失效分析是对失效器件进行分析检查,找出失效发生的原因,从而为改进、提高器件可靠性指明方向,在可靠性工程中具有重要的作用。

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