首页 期刊 电子测量与仪器学报 PicoScopeDeepMeasure~(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量——波形分析和搜索功能可帮助验证复杂设备的特点和性能 【正文】

PicoScopeDeepMeasure~(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量——波形分析和搜索功能可帮助验证复杂设备的特点和性能

波形参数   tm   波形分析   搜索功能   pico  

摘要:英国比克科技(Pico Technology)近日推出Deep Measure分析工具。作为Pico Scope 3000、4000、5000和6000系列示波器包含的标准配置,Deep Measure可提供波形参数的自动测量,测量范围可达上千万个连续波形周期。可以方便地对结果进行排序、分析并与波形显示关联。随着电子设备的日益复杂化,设计工程团队需要更好的工具来记录、分析和可视化波形数据及测量统计数据。大部分数字示波器提供频率、时段、

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅