首页 期刊 电子测量技术 单通道双谱紫外放电图像量化分析方法 【正文】

单通道双谱紫外放电图像量化分析方法

作者:瞿世强; 马立新 上海理工大学机械工程学院; 上海200093
紫外成像法   opencv   单通道双谱   自适应中值滤波算法  

摘要:为防止电晕放电带来的危害,需要对高压设备进行放电检测,采用日盲紫外成像法并利用开源计算机视觉库(OpenCV)对紫外图像量化分析.提取放电区域的量化参数,达到能量化分析放电量的目的。系统采用一种新的结构,利用单通道双谱紫外放电检测系统,其结构简单且成本较低;利用OpenCV相关函数,将紫外放电图像灰度化、二值化处理;采用一种自适应中值滤波(AMF-PDE)算法对放电图像进行滤波,提取了放电区域面积、周长等量化参数。最后进行对比实验,验证了放电量与光斑面积的正相关关系;同时,实验结果表明,观测距离与放电区域光斑面积呈幕函数关系。研究结果可作为一种新的方法来量化分析电器设备的放电量。

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