首页 期刊 大学物理实验 退火温度对磷掺杂ZnO结构及电学性质的影响 【正文】

退火温度对磷掺杂ZnO结构及电学性质的影响

作者:解玉鹏; 王显德 吉林化工学院; 吉林; 吉林132022
磁控溅射   zno薄膜   p型   退火温度  

摘要:采用磁控溅射方法在石英衬底上制备ZnO薄膜,利用XRD对薄膜结构进行表征,SEM表征薄膜的表面形貌,讨论了退火温度对薄膜结构和电学性质的影响。结果表明,在750℃快退火后,磷受主被激活,得到了p型ZnO:P薄膜。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅