摘要：通过我局一起OWF110／√3-0．0066型耦合电容器现场试验时出现介质损耗（tanδ）超标，经过分析发现，该耦合电容器因低压接线端子锈蚀严重，导致接触电阻增大从而使耦合电容器介质损耗测量值超标，处理后测试合格。

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