摘要：用动态接触电阻测量系统进行了电磁继电器失效检测试验,监测了其触点闭合过程的接触压降.试验发现闭合过程的触点接触压降为随时间复杂变化的衰减波形,经历了由动态的弹跳、微振动再到静态的过程.数据分析表明:继电器接触失效与闭合过程的弹跳时间及接触电阻峰值有一定关系,可综合考虑弹跳时间-操作次数曲线及接触电阻峰值-操作次数曲线的变化规律对继电器触点进行失效预测.

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