摘要：本文介绍一种基于NI LabVIEW和北京君合泰科技有限公司U18数据采集卡的晶体管特性测试仪的设计方法，内容包含循环扫描数据采集、回扫消隐、多曲线显示、传输系数计算、被测硬件电路设计等，并给出详细的前面板图和程乎框图以及三极管、MOS管、光电耦合器等部分器件的特性曲线测试例子。
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