摘要：通过对基于SRAM结构的FPGA测试方法进行分析和研究，提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象，并给出该现象的产生原因和判断条件，在此基础上，进一步提出相应的解决办法和建议，以避免或减少故障屏蔽现象的出现，提高测试FPGA的故障覆盖率．

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社