首页 期刊 材料工程 PVD薄膜传感器裂纹检测概率测定与分析 【正文】

PVD薄膜传感器裂纹检测概率测定与分析

作者:刘凯; 崔荣洪; 侯波; 何宇廷; 牛欢 中国人民解放军95606部队; 四川泸州646000; 空军工程大学航空工程学院; 西安710038; 陆军航空兵研究所; 北京101121
金属结构   疲劳裂纹   检测概率   薄膜  

摘要:为利用PVD(physical vapor deposition)薄膜传感器对金属结构裂纹的检测能力进行定量化表征,首先采用正交实验优化后适用于LY12-CZ铝合金的工艺参数,在3组中心孔板实验件上分别制备币状、1mm宽同心双环状、0.5mm宽同心三环状3种不同形状的PVD薄膜传感器。随后,在实验室条件下开展疲劳裂纹在线监测实验,对比分析PVD薄膜传感器电位输出信号和显微镜观测结果。最后,采用改进的裂纹尺寸间隔法和二项分布检测模型绘制PVD薄膜传感器总体与不同形状的裂纹检测概率曲线。PVD薄膜传感器在95%置信水平下,对长度大于0.99mm的裂纹检出概率可达93.56%;相比于币状薄膜传感器,同心环状薄膜传感器对小于0.5mm的裂纹更为敏感,且传感器通道宽度越细,对小尺寸裂纹的检测概率越高。

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