摘要：采用基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理计算方法,分析S在镍基合金钝化膜NiO表面吸附后的表面弛豫和电子结构。结果表明:S在NiO表面最稳定吸附位为桥位。S的吸附使得NiO表面带负电,因此S吸附后基底更加稳定。S在NiO表面的吸附主要为吸热过程,NiO表面对S原子有排斥作用。S吸附后与NiO表面的O原子发生键合作用,S与NiO表面O原子的耦合杂化使得O原子有轻微脱离NiO基底的趋势。

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