摘要：<正> 《中国科技信息》报导:瑞典Lund大学Lars Samuelson领导的研究小组首先以新科技成功的看穿纳米线的内部结构。他们利用横断扫描穿隧显微技术(cross—sectional scanning tunneling microscopy,XSTM)取得GaAs纳米线内部结构的图像,也清楚的观察到因镓原子列向突然转向造成双平面及单原子杂质的结构缺陷。

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