首页 期刊 半导体技术 一种抗电离干扰的高速串行驱动器 【正文】

一种抗电离干扰的高速串行驱动器

作者:邹家轩; 于宗光; 曹晓斌; 袁霄 西安电子科技大学微电子学院; 西安710071; 中国电子科技集团公司第五十八研究所; 江苏无锡214035
抗电离辐射   驱动器  

摘要:针对工业界高速串行接口(SerDes)发射级的驱动器在电离干扰条件下受到单粒子效应(SEE)干扰导致传输出错的问题,分析了经典高速SerDes驱动器结构受SEE干扰的机理,提出了一种采用密勒补偿的互补电流源全差分驱动电路结构,能够显著抑制单粒子效应在驱动器敏感节点上引起的扰动,改善高速SerDes抗SEE干扰的能力。基于所提出的驱动器结构设计了一款3.125 Gbit/s的高速SerDes收发器,并在130 nm部分耗尽型(PD)绝缘体上硅(SOI)CMOS工艺下完成了流片。在SEE的干扰条件下的测试结果显示,该驱动器的单粒子瞬态能量阈值显著高于经典结构驱动器,达到21.9MeV·cm^2·mg^-1,可应用于星载计算机高速数据传输。

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