首页 期刊 半导体技术 SF6/O2/CHF3混合气体对硅材料的反应离子刻蚀研究 【正文】

SF6/O2/CHF3混合气体对硅材料的反应离子刻蚀研究

作者:周宏; 赖建军; 赵悦; 柯才军; 张坤; 易新建 华中科技大学; 光电子工程系; 武汉; 430074; 华中科技大学; 光电子工程系; 武汉; 430074; 华中科技大学; 激光技术国家重点实验室; 武汉; 430074; 中国电子科技集团第44研究所; 重庆; 400060
反应离子刻蚀   硅   刻蚀速率   选择比  

摘要:采用统计实验方法研究了利用SF6/O2/CHF3混合气体产生的等离子体进行硅的反应离子刻蚀技术.为了优化刻蚀条件,将刻蚀速率和选择比表示为SF6、O2、CHF3各自的流量以及气压和射频功率的函数.文中讨论了各种变量的变化对刻蚀速率和选择比的影响以及刻蚀机理,证实了加入CHF3可以显著地减小表面粗糙的结论.

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅