首页 期刊 半导体光电 SiC肖特基紫外光电探测器的研制 【正文】

SiC肖特基紫外光电探测器的研制

作者:王丽玉; 谢家纯; 刘文齐 中国科学技术大学物理系; 安徽; 合肥; 230026; 中国科学技术大学理化科学中心; 安徽; 合肥; 230026
紫外探测   sic   宽禁带   肖特基  

摘要:采用微电子平面工艺,用宽禁带半导体n-4H-SiC和金属Au(或Ni)形成肖特基接触,Ti、Ni、Ag合金在背底作欧姆接触,制备出Au/n-4H-SiC和Ni/n-4H-SiC肖特基紫外光电探测器.测试分析了这两种器件的光谱响应特性及其I-V特性.其光谱响应范围均是200~400 nm,室温无偏压下,Au/n-4H-SiC的光谱响应峰值在310 nm,光谱响应半宽是73 nm,室温7 V偏压下光谱响应峰值86.72 mA/W,量子效率可达37.15%,Ni/n-4H-SiC相应的参数分别为300 nm、83 nm、45.84 mA/W及18.98%.Au/n-4H-SiC室温下正向开启电压0.81 V,Ni/n-4H-SiC是0.52 V,两者反向击穿电压均大于200 V,反向漏电流小于1×10-10 A.

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